Síntese de Nanocristais de Ferritas por Rota Solvotérmica
Nome: TAMIRES LACERDA DA SILVA
Tipo: Dissertação de mestrado acadêmico
Data de publicação: 26/04/2017
Orientador:
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Papel |
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JOSÉ RAFAEL CÁPUA PROVETI | Orientador |
Banca:
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Papel |
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CEZAR HENRIQUE MANZINI RODRIGUES | Examinador Externo |
CLEOCIR JOSÉ DALMASCHIO | Coorientador |
EDSON PASSAMANI CAETANO | Suplente Externo |
EDUARDO PERINI MUNIZ | Suplente Interno |
JOSÉ RAFAEL CÁPUA PROVETI | Orientador |
Páginas
Resumo: Neste trabalho, são apresentados estudos de quatro ferritas (MFe2O4), tendo o solvotérmico como método escolhido para sintetizar as partículas magnéticas (ferritas). Este método vem se destacando por permitir um controle no tamanho das partículas e por não permitir que se formem aglomerados indesejados no material. As amostras utilizadas foram caracterizadas atraves das seguintes técnicas: Difração de Raios-X (DRX), por Espectroscopia de Infravermelho (FTIR), Microscopia Eletrônica de Transmissão (TEM), Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) além de caracterizações elétricas que foram realizadas a partir dos filmes finos dos óxidos (ferritas). Ultilizou-se o programa MAUD (Materials Analysis Using Diffraction) para avaliar as fases cristalinas e tamanho de cristalito das amostras de ferritas. As ferritas apresentaram o tamanho de grão de 126 nm para CuFe2O4, 179 nm para CoFe2O4, 132 nm para ZnFe2O4, e 163 nm para NiFe2O4. Utilizou-se a Espectroscopia no Infravermelho para avaliar o ligante proveniente do ácido oleico, os resultados indicaram o grupo orgânico ligado nos nanocristais inorgânicoS sendo o ligante oleato responsável por estabilizar a solução coloidal controlando o tamanho das nanopartículas. As imagens de MET dão apoio para confirmar o tamanho dos nanocristais determinado por Difração de Raios-X, porém, nas imagens as estruturas não apresentaram uniformidade. As imagens de MEV mostraram as superfícies dos filmes finos classificados como homogêneas sem a evidência de trincas, exceto para a ferrita de zinco. Na caracterização elétrica, todos os filmes finos dos óxidos apresentaram comportamento ôhmico no intervalo de tensão utilizado, sendo que nas medidas de termoresistência, o material apresentou características de semicondutor. Os valores de resistência medidos para os óxidos a uma temperaturas em torno de 573 K foram: ferrita de cobalto 919,7 kΩ, ferrita de níquel de 23,7 MΩ, ferrita de cobre 51,7 kΩ e ferrita de zinco 24,8 MΩ. O método solvotérmico mostrou-se eficiente para obter nanocristais de ferritas estável com tamanho de cristalito entre 126 a 179 nm para tempos de síntese de 48 horas.